IEC 60759-1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序

作者:标准资料网 时间:2024-04-29 13:09:12  浏览:8657   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardtestproceduresforsemiconductorX-rayenergyspectrometers
【原文标准名称】:半导体X射线能谱仪的标准试验程序
【标准号】:IEC60759-1983
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1983
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC45
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;测量;试验;半导体;放射性;定义;电子工程;探测器;X射线;核技术
【英文主题词】:Climate;Definitions;Detectors(circuits);Electricalengineering;Electronicengineering;Environmentalconditions;Measurement;Nucleartechnology;Radioactivity;Semiconductors;Storage;Testing;X-rays
【摘要】:Suchsystemsconsistofasemiconductorradiationdetectorassemblyandsignalprocessingelectronicsinterfacedtoapulse-heightanalyzer/computer.Testproceduresforpulse-heightanalyzersandcomputersarenotcoveredinthisstandard.Companionpub
【中国标准分类号】:F81
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:97P.;A4
【正文语种】:英语